sot23 3芯片,芯片封装23-6
芯片测试解决方案:SOT芯片封装特点及适用场景。SOT芯片老化测试插座SOT89/353/363/323/223/263等系列老化测试插座用于测试密度高、体积小的IGBT、MOSFET等功能集成电路，该测试台支持SOT89/353/363/323/223/263系列IC，其规格包括绝缘阻抗、耐压、接触阻抗、额定电流和工作温度。选择时，启动NMOS晶体管:约30V70ADFN5*6或3*3推荐:台湾省东源FKBB3072DFN3*3DCDC降压芯片:输出5V2A3A，输入耐压35V推荐:台湾省裕泰ETA28...
更新时间：2025-07-08标签： 芯片测试SOTSOT89353 全文阅读