芯片测试解决方案:SOT芯片封装特点及适用场景。SOT芯片老化测试插座SOT89/353/363/323/223/263等系列老化测试插座用于测试密度高、体积小的IGBT、MOSFET等功能集成电路，该测试台支持SOT89/353/363/323/223/263系列IC，其规格包括绝缘阻抗、耐压、接触阻抗、额定电流和工作温度。
选择时，启动NMOS晶体管:约30V70A DFN5*6或3*3推荐:台湾省东源FKBB3072DFN3*3DCDC降压芯片:输出5V2A3A，输入耐压35V推荐:台湾省裕泰ETA2805E8AESOP8LDO:5V200mA，输入耐压30V推荐:上海贝岭BL8078CC3BTR33SOT。
SOT23系列芯片老化测试台支持igbtmosfet和其他功能SOT23是一种表贴封装，用于封装晶体管、二极管、调节器和放大器等小型元件。适配器厂商推荐CR6863P启辰微SOT 23-630-65W次级PWM适配器方案。启辰微1-300W功率段都有合适的型号。
恒流线性恒流LED驱动芯片NU501-1AXXX系列电流选择:NU501-1A010（恒流10ma sot 23-3）nu 501-1a 015（恒流15ma sot 23-3）nu 501-1a 020（恒流20ma sot 23-3）nu 501-1a 025（恒流25ma sot 23-3）nu 501-1a 030（恒流30mASOT23-3）NU501-1A120（（恒流120毫安时89）nu 501-1a 150（（恒流150毫安时89）nu 501-1a 240（恒流240毫安时89）nu 501-1a 280（恒流280毫安时89）nu 501-1a 300（恒流300毫安时89。
