致命故障绝缘子的表面电弧;部分功能失效,电容器失效的原因是各种电容器的材料、结构、制造工艺、性能和使用环境不同,失效机理也不同。引起电容器击穿的主要失效机理①介质材料中存在缺陷或瑕疵,塑封芯片在高倍显微镜下会出现分层和气泡现象,(分层缺陷,陶瓷电容器的热冲击失效模式:热冲击失效的机理是在生产多层陶瓷电容器时,各种兼容材料的使用将导致内部张力的热膨胀系数和热导率不同。然后导致芯片开裂、脱层、剥离和微裂纹等微观损伤。然而,对于没有爆裂的芯片,在热加工后,芯片材料的膨胀系数不同,这将导致芯片冷收缩后材料之间的应...
更新时间:2025-04-29标签: 失效机理电容器分层热击 全文阅读