存储器测试系统- DRAM测试系统、闪存测试系统。功能系统测试功能测试是最早的自动测试原理，是在生产线的中间阶段和末端使用专用测试设备对电路板功能模块进行全面测试，以确认电路板的质量，以此类推，这种测试机只能测量基本的L/C/R/D部件，也可以与TestJet一起使用来测试引脚部件，但其功能相对弹簧，因此无法为待测电路板提供电源，因此无法执行低级电路板程序自测。
FunctionalTesting功能系统测试是在生产线的中段和末端对电路板的功能模块进行全面测试，以确认电路板的质量。功能测试可以说是最早的自动测试原理，它基于特定的电路板或特定的单元。电子负载主要针对在电路板上执行各种功能测试的仪器。这些类型的自动测试设备用于验证存储芯片。
这样，更容易设计和测试电路板。自动检测设备包括电子负载、示波器、激光打标机、多功能校准台、自动光学显微镜等。飞针测试仪不依赖于安装在夹具或支架上的引脚模式。传感器板被压靠在被测元件的表面上，与元件引线框架形成电容器，并将信号耦合到传感器板。基于该系统，两个或多个探头安装在一个小磁头上，该磁头可以在x-y平面内自由移动。
AOI将降低维修成本，避免报废无法修复的电路板。主要缺点是需要测试夹具，编程和调试时间长，夹具制造成本高且难以使用，没有耦合信号表明焊点断开。及早发现缺陷将防止不良电路板被送往后续组装阶段，例如Klyden的PersonalKalos和Kalos系列、安捷伦的Versatest系列和Advantest的T。
